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TD-LTE:终端芯片测试仍是难点

作者:陈炳欣来源:中国电子报、电子信息产业网发布时间:2012-12-04 08:55我要评论
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星河亮点的一致性测试仪引起了参观者兴趣 刘晶摄


  测试仪表和测试系统作为TD-LTE产业链的重要组成部分,对于产品的性能、研发和产业化发挥着十分关键的助推作用。随着TD-LTE扩大规模网络试验的不断深入,TD-LTE芯片和终端环节测试手段相对薄弱的问题正在日渐凸显,如何更好地解决芯片和终端的多模多频测试、安全测试等,成为业界关注的焦点。日前,在电信研究院和TD技术论坛联合举办的“2012 TD-LTE测试技术研讨会”上,业界就如何紧跟产业发展脚步,推出解决方案,加强芯片和终端测试能力,抢占市场先机等话题,进行了深入讨论。展望未来,TD-LTE发展空间巨大,测试仪表和测试系统蕴含着巨大发展机遇。



  加快标准制定 完善测试环境

  要加快完善TD-LTE产业配套,强化国内实验室建设和国际认证的终端测试能力。



  从被确立为国际标准之后,TD-LTE已经走过7个春秋。7年中,TD-LTE在标准化、产业化、国际化等方面均取得巨大的进展,测试作为产业发展中不可或缺的一个环节,对关键技术验证以及系统设备、终端芯片等产品成熟起到了非常重要的作用。

  对此工业和信息化部无线电管理局副局长阚润田在研讨会上就特别指出,测试是为质量服务的,从研发阶段到产品生产,再到产品上市,都需要测试进行把关,因此要把测试工作与质量管理紧密结合,通过提高测试的质量来提高产品的质量。TD-LTE是我国拥有自主知识产权的通信技术,在网络建设和产品推出过程中,都需要测试来保障。因此,相关单位要加快完善TD-LTE的产业配套,强化国内TD-LTE实验室的建设和国际认证的终端测试能力,提升全球TD-LTE终端的一致性、国际漫游能力和产业的规模效应。

  中国通信学会秘书长张新生也指出,随着技术的发展,通信的概念与以往已大不一样,网络架构在发生变化,移动互联网、云计算、IPv6、物联网等新概念、新技术不断涌现,测试环节在TD-LTE产业链中所起到的保障作用正在不断提升。因此,测试机构应加快建立和测试有关的测试标准,同时在测试标准的基础上,尽快把测试环境打造好,把测试标准和测试目录整理好。TD-LTE网络的商用脚步正在不断加快,而未来产品的上市应用,必须履行行政许可手续,获得设备入网证,设备入网证的取得又必须经过测试机关的检测,确保产品质量,确保设备网络能够正常运行,保护消费者权益。



  关注耗电 多频多模拉长测试周期

  增大电池容量和降低终端功耗是终端芯片厂商关注的两个技术难点,因此耗电测试成为关键点。



  随着商用的临近,绝大多数运营商都会进行终端一致性测试,部分运营商根据其网络覆盖或业务模式,还会对终端进行复杂的自定义场景测试,芯片厂商也要保证芯片物理层与协议栈符合LTE规范标准。因此终端芯片测试成为未来一段时期,TD-LTE产业化的重点,无论是运营商还是芯片厂商都对终端芯片测试提出了更高更新的要求。

  张新生指出,现在看来整个产业链上,大家最关注的就是终端芯片了。说到底TD-LTE能不能得到发展,终端是一个非常关键的因素。“我有一个体会,在TD-LTE和FDD的发展中,高难度的动作、复杂性的工作全留给终端了,系统相对来说比较容易实现。”张新生说,“TD-LTE终端和以前的终端最大的区别是,以前主要是多频单模手机,而TD-LTE和FDD必须是多模多频,并且要在多模多频的条件下解决功耗问题。”他认为,随着移动互联网的发展,将来智能手机既是通信工具,又是上网工具,不仅要关注硬件平台,还要关心操作系统和多种多样的应用,终端芯片设计的复杂性可见一斑。在此情况下,必须把好标准检测这一关,才能使推向市场的终端产品合格。

  工业和信息化部电信研究院高级工程师李传峰表示,从测试经验来看,TD-LTE测试技术将面临三个新的挑战。首先,终端耗电问题是最严重的,LTE终端芯片必须支持大量的实时数据处理,这给TD-LTE的终端功耗性能提出了更高的挑战,终端的耗电性能成为用户对移动通信服务满意度的一个重要指标。目前来看,增大电池容量和降低终端功耗是终端芯片厂商解决问题的两个途径。因此耗电测试也就成为关键点。

  其次,是多模多频的测试周期问题。要做到网络覆盖,终端必须要支持多模多频。目前TD-LTE不仅要支持band38、39、40、41,还要支持TD-SCDMA频段,从全球范围来看,不同运营商有不同模式和频段的需求。因此测试仪表需要支持2G、3G、4G所有的制式和频段,这个挑战是巨大的。此外,在测试实施过程中,如果要把多模的整个测试做完,每一个频段到每一个模式,都有一系列测试例要完成,目前仅TD-LTE一个频段的一致性测试就要150~200小时。一个完整的终端测试周期将长到使产业界无法容忍的地步。

  最后,终端的安全问题也日益突出。智能手机将实现上网、看视频、文件下载、在线游戏等一系列功能,这些都会影响终端的安全。安全将是一个长期困扰智能手机发展的问题,因此未来有关安全的测试内容会迅速膨胀。



  方案陆续推出 强调快稳准

  提早做前期测试将有助于降低成本,如在互联互通测试时才发现问题,解决成本会提高3倍以上。



  由于产业链各环节,尤其是终端芯片环节,对测试提出越来越高的要求,而到目前为止对终端芯片的测试手段仍然相对薄弱。为此研讨会上各测试企业纷纷结合自身优势提出解决方案。

  英国安耐特公司亚太区产品经理陈俊儒强调了终端芯片进行前期测试的重要性。他指出:“希望大家提早做前期测试。根据安耐特的调查,一个问题如果是在设计阶段就找到并解决,其成本会非常低;如果到互联互通测试时才发现问题,解决问题的成本将提高3倍以上;如果在上市之后才发现,成本至少提高10倍以上,因为产品可能会召回,解决问题之后还要经过互联互通测试、入网测试等重新验证环节。”

  美国国家仪器有限公司(NI)无线通信行业市场经理汤敏则介绍了终端芯片测试中以软件为核心的测试平台的优势。她指出:“TD-LTE等标准在设计、创立初期,很多算法往往还在研发阶段,传统仪器不一定能很好地支持它们。而NI以软件为核心做定义,甚至是用软件设计仪器功能的平台,可以给创新者提供非常有利的工具,使他们能根据需求自由定制所需要的验证测试系统。NI提供仪器的硬件‘外壳’,而由被测企业工程师自由赋予软件‘核心’,不需要长期等待仪器厂商对新标准的响应,加速整个产品的上市流程。同时,由于仪器的软件‘核心’掌握在芯片、终端厂商手中,不需要透露给仪器厂商,这对关键产品、关键算法的IP保护更加有利。”

  安立市场部工程师胡浩则针对公司推出的手机应用测试仪进行了重点推介。“2G时代,手机除了电话和短信以外,其他功能很少,而智能手机应用功能众多,为此安立推出MD8475A测试仪,专门针对手机应用进行测试。比如可测试TD-LTE终端浏览网页等。同时,MD8475A操作简便,做应用测试时,不必像做协议测试时,把所有的细节都测试一遍,只要使用默认的测试参数就可完成。”胡浩表示。

  北京星河亮点技术股份有限公司市场部部长马楠则针对TD-LTE终端芯片的生产线测试设备进行了介绍。“对于生产企业产线的需求,我总结了三个字:快、稳、准。怎么达到‘快’?比较直接的思路是并发测试,多个测量项一块进行;另一种是并行测试,即双端口并行测试。这需要仪表企业和芯片商深入合作,因为这些测试都是配合芯片厂商的要求去做的,如果没有很好的互动是提高不了效率的。‘稳’的实现,要求仪表企业做好工作,强调直通率。‘准’字的达到,要求企业加强对协议、标准的理解。结合上述要点,星河亮点针对终端测试领域,重点推出终端综合测试仪SP8010B和SP8011,分别为生产型和研发型,可以支持TD-LTE、LTE FDD、TD-SCDMA、GSM、WIFI各类信令和非信令测试。”马楠指出。

  随着市场的推动、政府的支持和各相关企业的努力,TD产业链日趋完善。尽管测试仪器的开发投入大、风险大,但国内外测试企业已纷纷涉足该领域,市场前景看好。


 


责任编辑:电子信息产业网
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